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Research Group "Physik, Montanuniversität Leoben"
(Ao.Univ.Prof. Dr. Christian Teichert)

Head of the research group:
Last name:Teichert
First name(s):Christian
Title:Ao.Univ.Prof. Dr.
Position:Univ.-Dozent
Institution:
Institution:Montanuniversität Leoben
Organizational unit:Institut für Physik
Street address:Franz-Josef-Straße 18
Postal code:8700
City:Leoben
Mail:teichert(at)unileoben.ac.at
Homepage:http://www.unileoben.ac.at/content/view/1577/1773/, http://www.unileoben.ac.at/~spmgroup/
Assignments to Research Areas:
Research area(s):
  • Nano Science
  • Solid State Physics
Assignments to Fields of Work According to the Austrian System of Science Areas:
Field(s) of work:
  • Magnetism (103017)
  • Materials physics (103018)
  • Nanotechnology (210006)
  • Semiconductor physics (103011)
  • Surface physics (103020)
Data Acquisition:
Date of the data acquisition:31.03.2012
Data acquisition period:from: 2007   up to including: 2011
Research Group at the Time of the Data Acquisition:
Scientific group members:
10 Persons
Dr. Markus Kratzer
Dipl.-Phys. Christian Ganser
Dipl.-Ing. Andreas Pavitschitz
Dipl.-Phys. Monika Mirkowska
Dipl.-Ing. Quan Shen
Dipl.-Ing. Stefan Lorbek
Mario Lugger
Mrs. Lin Wang
Patrice Kreiml
Stefan Klima
Percentage project-funded:80
Scientific Output in the Above Data Acquisition Period:
H-index of the group head:24
Number of publications:48
Five most important publications:
  1. G. Brauer, W. Anwand, W. Skorupa, Y. Hou, A. Andreev, C. Teichert, S. Tam, A. Djurisi?, "Characterization of vertical ZnO nanowire arrays by slow positron implantation spectroscopy and atomic force microscopy", Nanotechnology 18, 195301-1-8 (2007)
  2. G. Hlawacek, P. Puschnig, P. Frank, A. Winkler, C. Ambrosch-Draxl, C. Teichert, "Characterization of step-edge barriers in organic thin-film growth", Science 321, 108-111 (2008)
  3. C. Teichert, J. J. de Miguel, T. Bobek, "Ion beam sputtered nanostructured semiconductor surfaces as templates for nanomagnet arrays", J. Phys. Condens. Mat. 21, 224025-1-9 (2009)
  4. P. Tejedor, L. Díez-Merino, I. Beinik, C. Teichert, "Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)", Appl. Phys. Lett. 95, 123103-1-3 (2009)
  5. G. Hlawacek, F. S. Khokhar, R. van Gastel, B. Poelsema, C. Teichert, "Smooth layer growth of organic semiconductor thin films on graphene", Nano Lett. 11, 333-337 (2011)
Patents:
  • C. Teichert, C. Hofer, J.J. de Miguel, M.A. Niño, N. Mikuszeit, E, Jiménez, J. Camarero, R. Miranda, D. Arvanitis, L. Gridneva, A. Persson, T, Bobek, H. Kurz, "Nanomagnet array and method of forming the same", European Patent application EP 1988555 A1.
Awards:
  • G. Hlawacek: AT&S Research Prize 2008, ÖPG
  • Christian Teichert: Best oral Presentation of ICTf14 Ghent, 2008
  • Igor Beinik: Anton Paar Prize in Physics 2011, ÖPG
Five most important talks:
  1. C. Teichert: Invited Talks, Fall Meeting of the Materials Research Society, Boston, USA, 2007 + 2008
  2. G. Hlawacek: Invited Talk, JVC-12, Balatonfüred, Hungary 2008
  3. C. Teichert: Keynote Talk, DPG-Frühjahrstagung, Regensburg, Germany, 2010
  4. C. Teichert: Invited Talk, ECOSS-27, Groningen, 2010
  5. Villa Conf. on Interactions among nanostructures (VCIAN), Las Vegas, 2011
Projects and Funding Granted in the Above Data Acquisition Period:
Competitive projects:
  • FWF:
    Low-friction nanocomposite coatings based on Magnéli-phase oxides
    Laufzeit: 2005 - 2009: Mittel: 30 kEuro Teilprojekt
  • FWF-NFN:
    Exploring fundamental growth morphologies in organic thin film systems
    Laufzeit: 2006 - 2009; Mittel: 190 kEuro
  • FWF:
    Elektrische Eigenschaften von Dünnfilmen auf der Nanoskala
    Laufzeit: 2007 - 2011; Mittel: 170 kEuro
  • FWF-NFN:
    Exploring fundamental growth morphologies in organic thin film systems
    Laufzeit: 2009 - 2012 (2nd funding period); Mittel : 240 kEuro
  • FFG-Bridge Projekt:
    Zink oxide varistors
    Laufzeit: 2010 - 2013 Mittel : (100 kEuro Teilprojekt)
Project-funded institutes:
  • CDG
    Doppler-Labor "Oberflächenphysikalische und chemische Grundlagen der Papierfestigkeit"
    Laufzeit: 2007 - 2013(14) Teilprojekt; Mittel: 300 kEuro
Commissioned projects:
  • MCL Leoben:
    AFM-Messungen
    Laufzeit: 2007-2011;
  • Industrie:
    AFM Messungen für Lenzing AG
    Laufzeit: 2007 - 2010;
  • Industrie:
    AFM Messungen für EPCOS Deutschlandsberg
    Laufzeit: 2007 - 2008;
  • PCCL Leoben AFM Messungen
    Laufzeit: 2007 - 2009,
  • Joanneum Research Steiermark
    AFM- und Kontaktwinkelmessungen
    Laufzeit: 2007 - 2010,
  • Industrie: AFM Messungen für Omya, Gummern,
    Laufzeit: 2011 - 2013,
Research Topics:
Current research topics:
  • Einsatz und Weiterentwicklung der Rastersondenmikroskopie zur physikalischen Charakterisierung von Oberflächennanostrukturen
  • Selbstorganisationsphänomene beim Wachstum von inorganischen und organischen Halbleiterschichten
  • Nanomagnete auf selbstorganisierten Halbleiteroberflächen
  • Charakterisierung von Oberflächenrauigkeiten/Reibung von Hartstoffschichten bis zu organischen Materialien
  • AFM Untersuchungen an Cellulose und Viskose
Future topics (next 5 years):
  • In situ Charakterisierung von Wachstumsphänomenen mit LEEM
  • In situ AFM-Charakterisierung von organischen Halbleiterschichten unter Beleuchtung
  • Untersuchung von nanoskaligen Kohlenstoffstrukturen wie C60 und Graphen mit Rastersondenmikroskopie-Methoden
Teaching and Research Mobility in the Above Data Acquisition Period:
Doctor's theses:
4 doctor's theses
  1. C. Hofer: Selbstorganisation bei Wachstum und Ionenbeschuss von Halbleiteroberflächen und deren Ausnutzung zur Herstellung magnetischer Nanostrukturen, Montanuniversität Leoben, 2007
  2. G. Hlawacek: Molecular growth mechanisms in para-sexiphenyl thin film deposition, Montanuniversität Leoben, 2007
  3. I. Beinik: Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy Techniques
    Montanuniversität Leoben, 2011
  4. F. Schmied: Atomic Force Microscopy investigations of fiber-fiber bonds in paper
    Montanuniversität Leoben, 2011
Diploma and master theses:
9 theses
  1. Y. Hou: Topography and conductivity measurements on nanostructures using atomic-force microscopy, Montanuniversität Leoben, 2007
  2. F. Schmied: Characterization of cellulose type I and type II fibres using Atomic-Force Microscopy, Montanuniversität Leoben, 2008
  3. T. Klünsner: Morphology Investigation and Implementation of Quantitative Friction Force Measurements of Low Friction Coating, Montanuniversität Leoben, 2008
  4. Q. Shen: Friction Force Microscopy characterization of organic thin films,
    Montanuniversität Leoben, 2009
  5. N. Gürkan: Gleitstufenuntersuchungen an austenitischen Stahlproben mittels Rasterkraftmikroskopie
    Montanuniversität Leoben, 2010
  6. A. Pavitschitz: Conductive atomic-force microscopy investigations of organic thin films
    Montanuniversität Leoben, 2010
  7. A. Wachauer: Photoconductive Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy measurements of organic semiconductor nanostructures
    Montanuniversität Leoben, 2011
  8. C. Ganser: Surface characterization of cellulose fibers by atomic force microscopy in liquid media and under ambient conditions
    Montanuniversität Leoben, 2011
  9. A. Jerrar: Rasterkraftmikroskopie-basierte Untersuchung photoreaktiver Polymerdünnschichten
    Montanuniversität Leoben, 2011
International networking:
  • ÖAD Spanien, 2007-08, Instituto Sciencia Materialas de Madrid (ICMM) 6 in + 6 out
  • ÖAD Ukraine, 2007-08, Institute of Physics of National Academy of Sciences of Ukraine, Kiev. 6 x in + 6 x out
  • G. Hlawacek (outgoing): University of Twente, Enschede, NL (2009-2010)
  • ÖAD Ukraine, 2007-08, Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine, Kiev. 6 x in + 6 x out
  • ÖAD Ukraine, 2009-10, Institute of Physics of National Academy of Sciences of Ukraine, Kiev. 6 x in + 6 x out
  • ÖAD Frankreich, 2009-10, CINAM-CNRS, Marseille, 6 x in + 6 x out
  • ÖAD Tschechien, 2010-2011, Institue of Physics, Tschechische Akademie der Wissenschaften, Prag, 6 x in + 6 x out
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